အတုအပ အစိတ်အပိုင်းများ၏ အရည်အသွေးကို စစ်ဆေးသည့် တစ်စိတ်တစ်ပိုင်းနည်းလမ်း

အတုလုပ်ခြင်း။အစိတ်အပိုင်းများ၏ အရည်အသွေးစစ်ဆေးခြင်းကို ပုံပန်းသဏ္ဍာန်အရည်အသွေးစစ်ဆေးခြင်းနှင့် အတွင်းပိုင်းအရည်အသွေးစစ်ဆေးခြင်းဟူ၍ ခွဲခြားထားသည်။ ယေဘူယျအားဖြင့် ပြောရလျှင် အသွင်အပြင် အရည်အသွေး စစ်ဆေးခြင်းမှာ သာမန်အားဖြင့် သာမန်မျက်စိ သို့မဟုတ် ချဲ့ထွင်မှုနည်းသောအားဖြင့် ပြုလုပ်သည့် အဖျက်မဟုတ်သော စမ်းသပ်ခြင်းမှ ဖြစ်သည်ဟု ဆိုသည်။ လိုအပ်ပါက အဖျက်အဆီးမရှိ စမ်းသပ်ခြင်းကိုလည်း အသုံးပြုနိုင်သည်။ အတွင်းပိုင်းအရည်အသွေးစစ်ဆေးခြင်းအတွက်၊ ၎င်း၏စစ်ဆေးခြင်းအကြောင်းအရာ၏လိုအပ်ချက်များကြောင့်၊ ၎င်းတို့ထဲမှအချို့သည် စွမ်းအင်နိမ့်စမ်းသပ်မှု၊ အရိုးကျိုးစမ်းသပ်မှု၊ စွမ်းအားမြင့်ဖွဲ့စည်းပုံစမ်းသပ်မှု၊ ဓာတုဖွဲ့စည်းမှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းကဲ့သို့သော ခန္ဓာဗေဒဆိုင်ရာစမ်းသပ်မှုများဟုခေါ်သော အဖျက်စမ်းသပ်မှုများကို လက်ခံရမည်ဖြစ်သည်။ နှင့်စက်မှုပစ္စည်းဥစ္စာစမ်းသပ်မှု။ အချို့က အဖျက်သဘောမရှိသော စမ်းသပ်နည်းများကိုလည်း သုံးနိုင်သည်။ အတုလုပ်ခြင်း၏ အရည်အသွေးကို ပိုမိုမှန်ကန်စွာ အကဲဖြတ်ရန်အတွက် အဖျက်စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် အဖျက်သဘောမရှိသော စမ်းသပ်ခြင်းတို့ကို ပေါင်းစပ်သင့်သည်။ နက်ရှိုင်းသောအဆင့်မှ အတုလုပ်ခြင်းများ၏ အရည်အသွေးကို ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာရန်အတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် အီလက်ထရွန် အဏုစကုပ်၊ အီလက်ထရွန် ထောက်လှမ်းခြင်းနှင့် အခြားသော အရန်ယန္တရားများကို ထုတ်လွှင့်ခြင်း သို့မဟုတ် စကင်န်ဖတ်ခြင်း သို့မဟုတ် စကင်န်ဖတ်ခြင်းတို့ကို လုပ်ဆောင်သင့်သည်။



အတုအပအစိတ်အပိုင်းများ၏ အတွင်းပိုင်းအရည်အသွေးစစ်ဆေးခြင်းနည်းလမ်းများကို ယေဘုယျအားဖြင့် အကျဉ်းချုံးနိုင်သည်- macroscopic ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံ စစ်ဆေးရေးနည်းလမ်း၊ အဏုကြည့်ဖွဲ့စည်းပုံ စစ်ဆေးခြင်းနည်းလမ်း၊ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ပစ္စည်းစစ်ဆေးခြင်းနည်းလမ်း၊ ဓာတုဗေဒဖွဲ့စည်းမှု ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနည်းနှင့် အဖျက်သဘောမဟုတ်သော စမ်းသပ်ခြင်းနည်းလမ်းတို့ဖြစ်သည်။



Macroscopic တစ်ရှူးစစ်ဆေးမှုသည် အမြင်စစ်ဆေးခြင်း သို့မဟုတ် ပါဝါနည်းသော မှန်ဘီလူးဖြင့် အတုပြုလုပ်ခြင်း (ယေဘုယျအားဖြင့် 30) × (အောက်) ဖြင့် အတုပြုလုပ်ခြင်း၏ macroscopic တစ်ရှူးများ၏ လက္ခဏာရပ်များကို စောင့်ကြည့်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန်ဖြစ်သည်။ အတုပြုလုပ်ခြင်း၏ macroscopic တည်ဆောက်ပုံစစ်ဆေးခြင်းအတွက်၊ အသုံးများသောနည်းလမ်းများမှာ သံချေးတက်နည်း (ပူသောချေးနည်း၊ အအေးချေးနည်းနှင့် လျှပ်စစ်ချေးနည်းအပါအဝင်)၊ အရိုးကျိုးခြင်းစမ်းသပ်နည်းနှင့် ဆာလဖာရိုက်နှိပ်နည်းတို့ဖြစ်သည်။



ပါဝါနည်းပါးသောချေးနည်းကို အက်ကြောင်းများ၊ ခေါက်များ၊ ကျုံ့သွားသောအပေါက်များ၊ ချွေးပေါက်များခွဲခြားခြင်း၊ အဖြူရောင်အစက်အပြောက်များ၊ ချွေးပေါက်များ၊ သတ္တုမဟုတ်သောပါဝင်မှုများ၊ ခွဲခြားဆက်ဆံခြင်း၊ စီးဆင်းမှုမျဉ်းဖြန့်ဖြူးခြင်း၊ စပါးအရွယ်အစားနှင့် ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံဆိုင်ရာသံမဏိ၊ သံမဏိ၊ စူပါလွိုင်း၊ အလူမီနီယမ်တို့ကို ဖြန့်ကျက်စစ်ဆေးရန် အသုံးပြုပါသည်။ နှင့် အလူမီနီယမ်သတ္တုစပ်များ၊ မဂ္ဂနီဆီယမ်နှင့် မဂ္ဂနီဆီယမ်သတ္တုစပ်များ၊ ကြေးနီသတ္တုစပ် အစိတ်အပိုင်းများ၊ တိုက်တေနီယမ်အလွိုင်းနှင့် အခြားပစ္စည်းများ။ သို့သော် မတူညီသောပစ္စည်းများအတွက်၊ သတ္တုပြားပုံသဏ္ဍာန်များကိုပြသသည့်အခါ etching agent နှင့် etching specification များသည် ကွဲပြားပါသည်။



အရိုးကျိုးခြင်းစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းအား အဖြူကွက်များ၊ ကွဲအက်ခြင်း၊ အတွင်းပိုင်းကွဲအက်ခြင်းနှင့် စတီးလ်များနှင့် သံမဏိများ (austenite မှလွဲ၍)၊ စပရိန်သံမဏိအတုများတွင် ဂရပ်ဖစ်ကာဗွန်ဂရပ်ဖစ်ကာဗွန်နှင့် ဤသံမဏိအမျိုးအစားများ၏ အပူလွန်ကဲခြင်းနှင့် အလွန်အကျွံလောင်ကျွမ်းခြင်းတို့ကို စစ်ဆေးရန်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။ အလူမီနီယမ်၊ မဂ္ဂနီဆီယမ်၊ ကြေးနီနှင့် အခြားသတ္တုစပ်များအတွက်၊ အောက်ဆိုက်ဖလင်၊ အောက်ဆိုဒ်ပါဝင်မှုနှင့် အခြားချို့ယွင်းချက်များရှိမရှိ စစ်ဆေးရန် အသုံးပြုသည်။



ဆာလဖာပုံနှိပ်ခြင်းနည်းလမ်းကို ဆာလ်ဖာဖြန့်ဖြူးမှု တူညီပြီး ဆာလဖာပါဝင်မှု ရှိ၊ မရှိ စစ်ဆေးရန် ကြီးမားသော တည်ဆောက်ပုံဆိုင်ရာ သံမဏိအတုများတွင် အဓိကအားဖြင့် အသုံးပြုပါသည်။



ပါဝါနည်းသောစမ်းသပ်မှုအတွက်အသုံးပြုသည့်ဖွဲ့စည်းပုံဆိုင်ရာသံမဏိနှင့်စတီးလ်စတီးလ်အတုပြုလုပ်သည့်နမူနာများအပြင်နောက်ဆုံးအပူကုသမှုခံယူခြင်းမရှိသော်လည်း၊ အခြားပစ္စည်းများအတုလုပ်ခြင်းကို ယေဘုယျအားဖြင့်နောက်ဆုံးအပူကုသမှုပြီးနောက်တွင်ပါဝါနည်းပါးသောစမ်းသပ်မှုပြုလုပ်လေ့ရှိသည်။